2019-11-26 更新 284次浏览
一、统计过程控制概述
1. 持续可信的品质——CPK
2. 统计过程控制的起源与发展
3. SPC基本概念
4. 过程控制原理
5. SPC的工具——控制图
6. SPC的目标
7. SPC的应用及收益
※ 分组讨论(SPC在本公司的适用场合?)
二、SPC统计基础
1. 现代质量管理学的统计观点
2. 概率与随机现象
3. 计量型数据和计数型数据
4. 总体与样本
5. 统计量:均值、方差、标准差
6. 正态分布——品管核心统计理论
7. 用正态分布展示和评价过程
8. 过程的位置和分布(离散度)
9. 中心极限定理
10.3σ质量与6σ质量
11.六西格玛(6σ)定义
12.PPM-西格玛Z数-CPK质量度量换算
三、变异知识
1. 变异与波动
2. 质量波动的因素分类--- 5M1E
3. 特殊原因和普通原因
4. 统计控制状态
5. 局部问题和系统改进
6. 波动、过程控制和过程能力
※课堂练习
1、游戏: 电脑上打开高德地图,比赛将鼠标从上课地点开始,到鼠标箭头指到北京天安门“安”字所需的时间;
2、结合游戏,各小组讨论如何做好SPC的意义所在。
四、控制图原理
1. 控制图样式
2. 两类错误
3. 休哈特“3σ原则”
4. 分析用控制图和监控用控制图
5. 常规控制图的分类
6. 统计过程控制原则
7. 控制图 8条判异准则
8. 如何选择控制图
五、控制图数据采集
1. 为什么要收集数据
2. 数据收集计划
3. 如何确定控制项目--关键质量特性
4. 控制图数据规模
5. 采集控制图数据的步骤
6. 修哈特的“合理子组原则”
7. 数据的分层问题
8. 控制图数据的时间序列特性
※ 课堂练习
各组从实际工作中,选取一个品质特性,尝试用SPC的理念、方法、思维和逻辑来进行管理。
六、计量型控制图
1. Xbar-R图(均值-极差)
2. Xbar-s 图(均值-标准差)
3. 中位数- R图(中位数-极差)
4. X-MR 图(单值-移动极差)
七、计数型控制图
1. P图(不合格品率)
2. np图(不合格品数)
3. c图(缺陷数)
4. u图(单位缺陷数)
※ 课堂练习
各组继续练习,搜集必要的数据,绘制合适的控制图。
八、过程能力研究
1. 过程能力研究的目的
2. 过程能力研究的步骤
3. 过程能力的概念:过程能力指数CP和CPK\ 过程性能指数PP和PPK
4. 过程短期能力研究与过程长期能力研究
5. 过程能力改进:减少普通原因持续改进过程潜力\减少特殊原因持续改进过程表现
6. 能力指数计算流程
7. 能力指数计算实例
8. 过程能力指数研究时机
9. 过程能力和过程性能指数计算前提条件
10.设备能力指数Cmk模型建立及计算
11.设备能力研究范围
12.计算Cmk流程
13.Minitab计算Cmk
※ 课堂练习
各组继续练习,在前边以搜集数据的基础上,进行过程能力研究。
九、控制图使用及策略
1. 控制图运用流程
2. 控制图界限的确定与发布
3. 控制图的记录
4. 对异常点的处置
5. 不要混淆控制界限和规格界限
6. 过程中心偏离目标的调整策略
7. 控制界限的重新计算问题
8. 用控制图确认改善效果
十、MINITAB应用
1. Minitab界面及操作
2. 控制图执行路径
3. 控制图数据输入
4. 控制图生成方法
5. 过程能力分析
6. 用Z图确认改善效果
7. 控制图打印制作
※ 课堂练习
各组继续练习,Minitab实操。
※ 分组发表、教师点评、集体评分
※ 学习心得、感悟、收获分享
※ 答疑、合影留念
课程标签:质量管理,质量控制